rentgenostrukturalna analiza
 
Encyklopedia PWN
rentgenostrukturalna analiza, strukturalna analiza kryształów,
jeden z działów krystalografii obejmujący metody obliczeniowe mające na celu określanie pozycji atomów w komórce elementarnej kryształu, na podstawie natężeń wiązek promieni rentgenowskich odbitych od płaszczyzn sieciowych tego kryształu, rejestrowanych metodami goniometrycznymi (goniometr rentgenowski) lub dyfraktometrycznymi (dyfraktometr rentgenowski).
Obecnie w analizie rentgenostrukturalnej stosuje się gł. metody polegające na obliczaniu tzw. gęstości elektronowej za pomocą sumowania szeregów Fouriera:
,
gdzie V jest objętością komórki elementarnej, ρ(xyz) — gęstością elektronową w punkcie komórki elementarnej o współrz. xyz, Fhkl — tzw. czynnikiem struktury obliczonym na podstawie natężenia refleksu hkl. Obliczenie ρ(xyz) na podstawie podanego wzoru nazywa się syntezą Fouriera. Syntezy Fouriera przedstawia się graficznie w postaci map gęstości elektronowej, z których bezpośrednio wyznacza się współrz. xyz atomów. Pomocniczą metodą analizy rentgenostrukturalnej jest metoda prób i błędów, w której na podstawie przybliżonych współrz. atomów w tzw. próbnym modelu struktury kryształu oblicza się natężenie refleksów IC i porównuje je z natężeniami refleksów uzyskiwanych doświadczalnie I0, a następnie w celu uzyskania lepszej zgodności ICI0 zmienia się wartości xyz.
Przeglądaj encyklopedię
Przeglądaj tabele i zestawienia
Przeglądaj ilustracje i multimedia